Veröffentlichungen "Ringelmann, Tim"

Eine Ebene nach oben ...
Exportieren als [RSS feed] RSS 1.0 [RSS2 feed] RSS 2.0
Gruppieren nach: Publikationsform | Jahr | Keine Gruppierung
Anzahl der Einträge: 1.

Artikel in einer Zeitschrift

file
Nehmer, Dominik ; Ringelmann, Tim ; Bakran, Mark-M.:
Modelling and Evalaution of the Bidirectional Surge Current Robustness of Si(-IGBT and -Diode), SiC(-MOSFETs and -JFET) and GaN(-HEMTs) Devices.
In: Energies. Bd. 17 (2024) Heft 17 . - 4362.
ISSN 1996-1073
DOI der Verlagsversion: https://doi.org/10.3390/en17174362

Diese Liste wurde am Sat Apr 5 01:21:04 2025 CEST generiert.
[Zum Seitenanfang]