Veröffentlichungen "Ringelmann, Tim"
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Nehmer, Dominik ; Ringelmann, Tim ; Bakran, Mark-M.:
Modelling and Evalaution of the Bidirectional Surge Current Robustness of Si(-IGBT and -Diode), SiC(-MOSFETs and -JFET) and GaN(-HEMTs) Devices. In: Energies. Bd. 17 (2024) Heft 17 . - 4362. ISSN 1996-1073 DOI der Verlagsversion: https://doi.org/10.3390/en17174362 |