Projekte: Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Anzahl der Einträge: 2. D
Dominijanni, S. ; Frost, Daniel J. ; Dubrovinsky, Leonid ; Miyajima, Nobuyoshi ; Koemets, Egor ; Aprilis, Georgios ; Chariton, Stella ; Fedotenko, Timofey ; Khandarkhaeva, Saiana ; Melai, Caterina ; Koemets, Iuliia ; Liu, Zhaodong ; Cerantola, V. ; Chumakov, A. ; Hanfland, M. ; Svitlyk, V. ; Rosa, A. D. ; McCammon, Catherine: M
Miyajima, Nobuyoshi ; Wang, Lin ; Katsura, Tomoo: |